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體積電阻率測(cè)試儀本儀器既可測(cè)量超高電阻，又可測(cè)極微弱電流。采用了大規(guī)模集成電路以及新的zhuan利技 術(shù)，使儀器體積小、重量輕、準(zhǔn)確度高。以數(shù)字液晶顯示電阻并同時(shí)直接顯示流過被測(cè)電阻的電流。電阻量程從1×104Ω～1×1018Ω， 電流測(cè)量范圍 為2 ×10-4A ～1 ×10-16A。機(jī)內(nèi)測(cè)試電壓為DC10V、50V、100V、250V、500V、1000V。

體積表面電阻率試驗(yàn)儀本儀器既可測(cè)量高電阻，又可測(cè)微電流。采用了美國Intel公司的大規(guī)模集成電路,使儀器體積小、重量輕 準(zhǔn)確度高。數(shù)字液晶直接顯示電阻值和電流。量限從1×104Ω ～1×1018 Ω，是目前國內(nèi)測(cè)量范圍*寬，準(zhǔn)確

高溫體積表面電阻率測(cè)試儀適用標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 22042-2008《服裝 防靜電性能 表面電阻率試驗(yàn)方法》；EN 1149-1-1995 《護(hù)服 靜電性能 第1部分表面電阻檢驗(yàn)方法和要求》；GB/T 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》（與標(biāo)準(zhǔn)IEC93-1980等效）；FZ/T 64013-2008 《靜電植絨毛絨》；

表面體積電阻率檢測(cè)儀符合標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 1410-2006《 固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》 ASTM D257-99《絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗(yàn)方法》 GB/T 10581-2006 《絕緣材料在高溫下電阻和電阻率的試驗(yàn)方法》

表面電阻率測(cè)定儀LST-121絕緣材料體積表面電阻率測(cè)試儀可用于測(cè)量各種織物、服裝以及其他絕緣材料的表面比電阻（表面電阻率）和體積比電阻（體積電阻率），從而反映試驗(yàn)材料的帶靜電性能。

ATI-212EVA體積電阻率測(cè)試儀所有測(cè)試電壓（100/250/500/1000V） 測(cè)試時(shí)電阻結(jié)果直讀，免去老式高阻計(jì)在不同測(cè)試電壓下或不同量程時(shí)要乘以系數(shù)等使用不便的麻煩，使測(cè)量超高電阻就如用萬用表測(cè)量普通電阻樣簡便。既能測(cè)超高電阻又能測(cè)微電流

表面體積電阻率測(cè)試儀（GBT1410）采用三電極法對(duì)試樣進(jìn)行測(cè)試，其試驗(yàn)裝置主要有平板式電極裝置和高阻計(jì)兩部分組成。基本原理是對(duì)試樣加入不同擋位的直流電壓，流經(jīng)試樣的微弱電流用標(biāo)準(zhǔn)電阻取樣放大后，從高阻計(jì)上讀出。數(shù)字直接顯示出電阻值,精度高、顯示迅速、穩(wěn)定性好、讀數(shù)方便。

ATI-212型體積表面電阻率測(cè)試儀（GBT1410）本儀器既可測(cè)量高電阻，又可測(cè)微電流。采用了美國Intel公司的大規(guī)模集成電路,使儀器體積小、重量輕準(zhǔn)確度高。數(shù)字液晶直接顯示電阻值和電流。量限從1×104Ω ～1×1018 Ω，是目前國內(nèi)測(cè)量范圍寬，準(zhǔn)確度的數(shù)字超高阻測(cè)量儀。